标准、专利： 

1. 程国峰、曾毅、阮音捷、黄月鸿、宋力昕，国家标准GB/T 31568-2015，《热障ZrO₂涂层晶粒尺寸的测定—谢乐公式法》， 
2. 程国峰、曾毅、黄月鸿，上海市企业标准Q/KYD0073-2010，《热障ZrO₂涂层晶粒尺寸的测定—X射线衍射法》 
3. 程国峰、阮音捷、尹晗迪、孙玥，上海市企业标准Q/AKAD 0680-2019，《氧化硅中α、β相含量测定的X射线衍射法》 
4. 程国峰、阮音捷、尹晗迪、孙玥，上海市企业标准Q/AKAD 0681-2019，《氧化锆中单斜相含量测定的X射线衍射法》 
5. 程国峰、阮音捷、尹晗迪、孙玥，上海市企业标准Q/AKAD 0682-2019，《氧化锆中各相含量测定的Rietveld全谱拟合法》 
6. 程国峰、阮音捷、刘薇、喻春胜，一种可调式电场加载试验台，中国，ZL 201520367998.9 
7. 程国峰、刘薇、阮音捷，一种衍射仪用电场加载试验夹具，中国，ZL 201620748332.2 
8. 程国峰、尹晗迪、阮音捷，一种高通量的衍射及拉曼光谱试样台，中国ZL201820641281.2 
9. 程国峰、尹晗迪、阮音捷，一种拉曼光谱低温测试用坩埚，中国，ZL201820642013.2 
10. 程国峰、尹晗迪、阮音捷，用于变温X射线衍射仪的阻光刀，中国，ZL201820642085.7 
11. 程国峰、阮音捷、孙玥、尹晗迪，一种衍射仪用长度可调的发散狭缝， 中国，ZL201920568310.1. 

　　国际晶体学会（ICDD）收录9组粉末衍射标准数据： 

　　33-741  PbBi₄Ti₄O₁₅         33-1320  SrBi₄Ti₄O₁₅ 

　　34-3    liNd(PO₃)₄          35-26    NaBaSrNb₅O₁₅ 

　　35-27   Na_0.9Sr_2.05Nb₅O₁₅     35-412   Na₃Zr₂Si₂PO₁₂ 

　　36-152  KBi(TiO₃)₂           36-153   NaBi(TiO₃)₂ 

　　36-341  Pb₄Na₂Nb₁₀O₃₀