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测试中心开展X射线显微镜检测服务

发布时间: 2022-11-23 13:59 | 【 【打印】【关闭】

   中国科学院上海硅酸盐研究所测试中心新引进的X射线显微镜(蔡司 Xradia 620 Versa)目前已安装调试完成并开始试运行。

  X射线显微镜(XRM)是材料研究必备的三维形貌和缺陷表征手段,具有纳米量级的空间分辨率,可对材料进行原位、无损的微观结构检测,可表征材料中孔隙、微裂纹等缺陷以及纤维方向、夹杂等,可通过分析微观模型尺寸对材料宏观属性的影响,从而对材料性能进行预测。具体包括:(1)缺陷分析:材料微裂纹等缺陷的分布,基体的粘结程度和界面的形态,以及局部纤维取向和厚度,颗粒尺寸和形状,模拟其在三维空间内萌生、扩展以及合并的过程。(2)三维形貌分析:材料孔径大小、分布,纤维的类型、半径、长度、朝向以及扭曲度进行定性定量表征,材料微观三维结构,如孔隙率、孔隙连通性、孔径大小等的表征和三维重构。

  仪器主要性能指标:三维成像空间分辨率最高500nm,温度最大150℃,拉伸力最大5kN。

  欢迎广大科研人员使用。

  地址:嘉定E楼209 电话:021-69163602/3558