12月15日，中国科学院上海硅酸盐研究所无机材料分析测试中心开展了学术交流活动，吴伟工程师和钟秋博士分别作了题为《测试条件对场发射扫描电镜图像的影响》和《质扩散系数的理论及实验测量方法介绍》的学术报告。测试中心全体成员参加了活动，并吸引了所内其他研究部门的众多科研人员和研究生参与。

吴伟的报告从加速电压、电子束束流、电子束减速、工作距离、探测器类型以及制样等条件讨论了不同工作条件对材料显微结构表征的影响。列举了不同工作条件下的测试案例，如使用不同工作条件观察不同类型的介孔材料；使用低加速电压二次电子、背散射电子的混合信号观察CVD法制备的石墨烯；使用低加速电压的背散射电子信号观察材料表层的成分信息，增加加速电压观察材料的内部成分信息；碳化硅（SiC）单晶同质外延法生长碳化硅（SiC）单晶薄膜，根据基体层与薄膜层的电导率差异而导致荷电差异，使用特定加速电压的二次电子信号测量薄膜层厚度等等。扫描电镜工作条件的选择对显微结构表征非常重要，条件选择不当很有可能导致观察不到所要表征的内容。

钟秋的报告主要针对质扩散系数的理论和实验研究进行综述性的阐述。首先，介绍了扩散的起源、定义以及驱动力，针对现阶段扩散分类比较混乱的情况，对现有的各种扩散类型进行了详细的分类。接着，对质扩散系数在能源、化工、医学以及固体材料领域的应用进行了简要的介绍。同时，通过对文献的分析，介绍了质扩散系数研究的发展历史及研究现状。然后，根据质扩散系数实验测量装置的不同，对现有的质扩散系数实验测量方法进行了分类，并详细介绍了几种常用实验测量方法的基本实验原理。在质扩散系数的理论研究方面，通过对质扩散系数理论研究的分析，对现有的理论推算方程进行分析，指出具有普适性的精确的纯理论推算方程是质扩散系数理论研究的热点。最后，具体的讲解了数字实时激光全息干涉法流体质扩散系数实验测量系统的实验原理、实验装置、物理模型以及实验过程。

报告间隙，科研人员、研究生和报告者进行了互动交流，气氛热烈。通过这次学术交流活动，拓宽了科研人员和研究生的知识面，加强了研究部门和测试中心之间的交流和联系。

学术交流活动现场

吴伟作报告

钟秋作报告

测试中心