吴萍，助理研究员 

　　021-52412116 

　　pingwu@mail.sic.ac.cn

　　 

　　教育经历： 
　　2002-2006， 南京晓庄学院，分析化学，学士学位 
　　2006-2009，上海大学，物理化学，硕士学位 

 

　　工作经历：  
　　2009—2011，中国科学院上海硅酸盐研究所，高性能陶瓷和超微结构国家重点实验室，实习研究员 
　　2011-至今， 中国科学院上海硅酸盐研究所，高性能陶瓷和超微结构国家重点实验室，助理研究员 

 

　　科研工作简介： 

　　主要从事扫描俄歇微探针和光电子能谱表面分析仪的分析测试工作。扫描俄歇微探针和光电子能谱表面分析仪，主要用于分析固体表面和界面的化学成分、化学结构、化学价态。俄歇电子特征动能与光电子特征动能是俄歇谱术（AES）和光电子谱术（XPS）的两个基本表征参数。两种电子的逃逸深度一般在0.5纳米～3纳米的范围内，它们可以携带除氢、氦两种元素外，所有其它元素在表面几个原子层、十几个原子层的化学信息。