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X射线衍射 X-ray Diffraction Analysis

  Rigaku D/max 2550V X射线衍射仪 

   

  仪器参数: 

  X射线发生器:功率18kW60kV,450mA),Cu旋转阳极靶 

  扫描方式:θ-2θ测角仪 

  X射线发生器稳定度:<0.01% 

  测角仪精度(2θ):0.002° 

  附件:多目的测试附件MPA-2000,高温装置SHT-1500    

  Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪 

    

  仪器参数: 

  X射线发生器:Cu靶,功率3kW,陶瓷光管 

  扫描方式:θ-θ测角仪 

  探测器:LynxEye阵列探测器 

              (角度分辨率0.037°,衍射强度达108cps 

  自动进样器 

  应用范围: 

  物相定性、定量;材料结晶度测定;点阵参数测定;纳米材料微结构(晶粒尺寸、微观应力)测定 ;介孔材料小角衍射;掠入射衍射; 

  高温(室温-1500℃)衍射;Rietveld结构精修等。 

  Bruker D8 DISCOVER X射线衍射仪 

   

  仪器参数: 

  X射线发生器:Cu靶,功率3kW,陶瓷光管 

  扫描方式:θ-θ测角仪 

  探测器:LynxEye阵列探测器、NaI闪烁计数器 

  光学附件:Göbel镜、Ge(022)分析晶体 

  高精度五轴全自动尤拉环: CHI -11°-- 98°;PHI园,360 X轴平移, 80mm Y轴平移, 80mmZ轴平移, 2mm 

  应用范围: 

  薄膜掠入射分析(GID):精确分析多层膜中材料的组成、次序、取向等; 

  薄膜反射分析(XRR):针对多晶、单晶多层薄膜厚度、密度、粗燥度进行精确分析; 

  材料微区分析:对于小于500微米的区域进行分析; 

  高分辨衍射(HRXRD):针对高质量的外延薄膜、单晶材料,开展摇摆曲线,倒易空间mapping分析。     

  Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪 

   

  仪器参数: 

  X射线发生器:Cu靶,功率3kW,陶瓷光管 

  扫描方式:θ-θ测角仪 

  探测器:LynxEye阵列探测器 

  高低温加热装置:PtRh直接加热,RT-1600,-180-450 

  最大升温速率:30/min 

  应用范围: 

  可进行粉体、块体、薄膜等材料在真空、N2气、Ar气等环境下的原位X射线分析,用来研究材料的相变过程及热力学性质。

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